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ASH顯微鏡:第三代多功能檢測平臺Omni 多種測量軟件
作為獨立式全高清顯微檢測平臺,Omni3集成嵌入式運算系統,無需外接PC即可獨立完成復雜成像處理與多維測量任務。其核心功能涵蓋智能分析模塊:通過顏色分析算法自動識別樣品污染物或異物,減少人為誤差并提升良品率50%;對象計數功能可精準統計目標區域內的元件數量,效率提升70%;新增Z軸高度測量能力,結合X-Y平面實現三維空間檢測,大幅提升檢測完整性。系統搭載全維度測量工具,支持2D點對點、直徑、角度測量及可調X-Y網格標定,同時兼容DXF工程文件導入導出,支持圖紙疊加比對與動態標注,滿足工業級精密檢測需求。
影像處理技術突破傳統限制,支持多圖像拼接擴展高倍率下的可視范圍,并通過多層焦平面堆疊技術呈現清晰樣品全貌。擁有實時比對功能可進行分屏顯示,將實時畫面與存儲的主圖像對比,或通過圖像疊加定位細微缺陷,顯著提升缺陷識別精度。系統配備超快速自動對焦系統,樣品放置后即時完成聚焦,檢測速度提升3倍;結合點聚焦與手動搖臂對焦功能,實現局部區域精準微調。光學性能方面,Omni3采用全高清零延遲成像技術,真實還原色彩細節,結合RTLDC™實時鏡頭畸變校正與景深優化技術,減少調焦頻次,確保檢測連貫性。
擴展功能體系覆蓋多場景需求:支持環形燈、半球燈、偏振光及紫外線光源自由切換,適配不同檢測環境;AshCal™永校準技術保障測量一致性,避免重復標定;用戶權限管理系統可分級設置操作權限,強化數據安全性。數據管理端支持圖像附帶時間、日期、用戶及放大倍率信息存儲,一鍵保存至本地或網絡,并可直接通過郵件發送檢測報告。通過屏幕預設按鈕快速調用常用設置,結合熱鍵操作優化工作流。Omni3以實驗室級精度重塑工業質檢流程,通過三維測量、智能分析與自動化技術,實現缺陷識別效率倍增,為航空航天、汽車制造、電子元件等領域的質量控制與工藝優化提供全鏈路解決方案。
ASH顯微鏡:第三代多功能檢測平臺Omni 多種測量軟件
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